IEC/EN 61000-4-11 DIP(Voltage dip, interruption) 電壓瞬降耐受

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Scope 適用範圍

This part of IEC 61000 defines the immunity test methods and range of preferred test levels for electrical and electronic equipment connected to low-voltage power supply networks for voltage dips, short interruptions, and voltage variations.

This standard applies to electrical and electronic equipment having a rated input current not exceeding 16 A per phase, for connection to 50 Hz or 60 Hz a.c. networks.
It does not apply to electrical and electronic equipment for connection to 400 Hz a.c. networks.

Tests for these networks will be covered by future IEC standards.
The object of this standard is to establish a common reference for evaluating the immunity of electrical and electronic equipment when subjected to voltage dips, short interruptions, and voltage variations.

電子電機設備會受到供電電壓瞬降、瞬斷、緩降的影響。造成這些電壓變動的原因是由於電力系統、變電設備發生故障或負荷突然發生大的變動，或者負荷相對比較平穩的連續變化引起的。

這些現象是隨機的，規律性很差，有時候在一段時間內會出現多次，甚至連續出現，進而干擾電子電氣設備的正常工作。此項測試的目的就是為了檢驗電子、電機設備在遭受這類磁場擾動影響時的性能。

Test Level 測試位準

此項測試是以受測設備的額定工作電壓（UT）作為規定電壓測試等級的基礎。

電壓瞬降、瞬斷
UT和變化後的電壓之間的變化是突然發生的。採用以下的電壓測試等級（％UT）：0％，40％，70％和80％，對應於從額定電壓暫降100％，60％，30％和20％。

電壓瞬降採用的測試等級和持續時間如下表所示

                               
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61000 4 11 level for dip

電壓瞬斷採用的測試等級和持續時間如下表所示

                               
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61000 4 11 level for interruption
電壓變化（Optional）

這項測試為在額定電壓UT和變化後的電壓之間有一個確定的過渡過程。
採用的電壓變化所需時間和減小後的電壓維持時間如表所示

                               
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61000 4 11 timing of short term supply voltage variations
測試產生器

測試產生器應有防止輻射干擾的措施，否則這些輻射干擾進入供電網路，就可能會影響測試結果。
測試產生器的特性和性能輸出電壓：±5％；
測試產生器的輸出隨負荷變化的誤差：
100％輸出，0～16A：＜5％
80％輸出，0～20A：＜5％
70％輸出，0～23A：＜5％
40％輸出，0～40A：＜5

輸出電流能力：額定電壓下每相電流為16A有效值。測試產生器應能在80％額定電壓下輸出20A，持續時間最長為5s，在70％額定電壓下輸出23A，在40％額定電壓下輸出40A，持續時間最長為3s。
以100Ω 負載，測試產生器電壓上升（衰減）時間變化：1us ～ 5us
相位變化：0° ～ 360。
電壓瞬降和瞬斷與電源電壓的相位關係：＜±10。
測試產生器的輸出阻抗即使在過渡過程中也必須呈低阻抗。

測試產生器的特性驗證

測試產生器應符合其測試電壓之輸出電壓百分比。
在100％，80％，70％和40％輸出電壓時，測試產生器在沒有負載時量測其測試電壓之輸出電壓百分比。¨ 在100％，80％，70％和40％的輸出電壓時，測試產生器在接上負載時量測其測試電壓之輸出電壓誤差需於5％以內

電源
測試電壓的頻率在額定頻率±2％以內

測試配置

依照EUT製造商規定，最短的電源電纜把EUT連接到測試產生器上進行測試。
對有不只一組電源線的 EUT，每組電源線應該被分別驗證測試。

測試程序

試驗室的電磁條件應保證EUT正常運行，使測試結果不受影響。
測試時，監測測試的電源電壓使其在2％誤差內，測試產生器的相位關係必須在±10°誤差內。

電壓瞬降、瞬斷

EUT應按每一種選定的測試等級和持續時間組合，依序進行電壓瞬降或瞬斷測試，最小間隔10s（兩次測試之間的間隔）。
電源電壓的突變發生在電壓過零處，及由有關的標準化技術委員會或產品標準認為是關鍵的相位處，每相優先選擇45、90、135、180、225、270和315。

電壓變化（Optional）

對EUT進行每一種規定的電壓變化，在最典型的運行方式下進行三次測試，測試之間間隔10s。

61000-4-11 測試結果的評估

測試結果必須依待測設備的功能喪失或劣化來分類，可參考由製造商或測試者要求訂定的性能位準，或由製造商和產品的採購者協商，建議的分類如下：

a) 在製造商和採購者所定的規格要求內性能正常；

b) 性能暫時喪失或劣化的情形在干擾源終止後也停止， 而且不需要操作者處理即可自行恢復正常功能；

c) 暫時的劣化或性能的喪失， 需要操作人員處理或系統重新設定方能恢復；

d) 性能的劣化或喪失， 是因硬體或軟體的損壞或是因資料流失， 以致無法恢復。

                               
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61000 4 11 wave graph for 70 voltage dip

IEC/EN 61000-4-11 DIP(Voltage dip, interruption) 電壓瞬降耐受

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