|
Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-6: Testing and measurement techniques – Immunity to conducted disturbances, induced by radio-frequency fields
Scope 適用範圍
This part of IEC 61000 relates to the conducted immunity requirements of electrical and electronic equipment to electromagnetic disturbances coming from intended radio-frequency (RF) transmitters in the frequency range 150 kHz up to 80 MHz. Equipment not having at least one conducting wire and/or cable (such as mains supply, signal line or earth connection) which can couple the equipment to the disturbing RF fields is excluded from the scope of this publication.
The object of this standard is to establish a common reference for evaluating the functional immunity of electrical and electronic equipment when subjected to conducted disturbances induced by RF fields. The test method documented in this part of IEC 61000 describes a consistent method to assess the immunity of an equipment or system against a defined phenomenon.
傳導輻射基本上是一個來自意圖發射之射頻發射機的電磁場，其可能影響連接到所安裝設備整個電纜長度，被擾動設備(大部分是一個大系統的一部分)的尺寸，假設與牽涉的波長相比是小的；進入與外伸的導線例如電源線、通訊線、介面電纜，因為它們可能會有數個波長的長度，所以行同被動的接收天線網路。
測試方法為把待測設備置於由電場和磁場所組成的擾動源，以模擬由意圖射頻發射機所產生的擾動。
耦合和去耦合裝置的使用，是使用在對一條電纜的擾動信號，當所有其它電纜保持沒有被激勵僅能近似擾動源同時作用在所有電纜的真實情況，在一個不同的振幅和相位為範圍。
61000-4-6 Terms and definitions 名詞定義
clamp injection
clamp injection is obtained by means of a clamp-on “current” injecting device on the cable
electromagnetic clamp
EM clamp
injection device with combined capacitive and inductive coupling
coupling/decoupling network
CDN
electrical circuit incorporating the functions of both the coupling and decoupling networks
Test Level 測試位準
61000 4 6 Level
測試位準按法規要求為五個位準，按不同產品法規選用Level 1-4之測試能量，最後一個Level X為開放值，通常為製造商為增強其產品對靜電的抗擾能力，或為在較嚴苛的環境使用進而加嚴測試條件。
上表是訂定未調變信號的詳細場強，對於設備的測試，此信號是以1kHz 的正弦波進行80%的振幅調變，以模擬實際的干擾威脅
測試產生器
測試產生器包括所有設備和元件，以提供每一個耦合裝置具有擾動信號的輸入埠在所需點之所需信號。
測試產生器的特性：
輸出阻抗：50Ω
諧波和失真：超過 15dB 在載波位準下，載波位準頻率以測試產生器發送之最大功率之頻率為驗證頻率點
振幅調變：內部或外部 80%±5% 深度由1kHz±10% 正弦波 輸出位準：夠高以涵蓋測試位準
發生在耦合裝置待測設備埠的輸出波形的定義
耦合和去耦合裝置
必須使用耦合和去耦合裝置，以作為擾動信號的適當耦合(在整個頻率範圍，待測設備埠具有一固定的共模阻抗)到所連接待測設備的各種電纜。
耦合和去耦合裝置能被整合在一個盒子內(即所謂耦合/去耦合網路：CDN)或能由一些零件所組成，且能使用作為特定的非屏蔽電纜，例如CDN-M1，CDN-M2，CDN-M3，CDN-T2，CDN-T4。
EM 夾具
EM 夾具對連接到待測設備的電纜同時建立電容性和電感性耦合。
測試產生器的設定
測試產生器的輸出位準，必須以一個未調變載波來設定，在做完校正設定後，調變必須打開且使用一個射頻示波器來檢查。在測試期間調變必須維持打開。
在耦合裝置的待測設備埠的輸出位準的設定：
測試產生器必須連接到耦合裝置的射頻輸入埠，耦合裝置的待測設備埠必須經由150Ω到50Ω轉換器， 以共模連接到具有50Ω輸入阻抗的測量設備。
輔助設備埠必須在共模下以150Ω對50Ω轉換器加負載，並以50Ω終接。對所有耦合和去耦合裝置配置。
射頻傳導擾動免疫力測試配置圖射頻傳導擾動免疫力測試配置圖
測試安排配置(Test Setup)
所有測試的設備，在測試時必需盡可能接近裝設時的配置，周邊線必須和製造商所建議的程序一致，除非有其他的說明，否則必須將各面和控制面板都組裝一起。
要測試的設備是放在離接地參考平面0.1m 高的絕緣支架上，所有相關的電纜必須提供適當的耦合和去耦合裝置由待測設備在接地平面上的投影幾何面，在0.1m 到0.3m之間。
由任何金屬障礙物，必須距待測設備至少0.5m 。CDN 所有未被激勵的輸出埠必須以50Ω負載終接接，屬於待測設備交互連接的電纜(≦1m)必須保留在絕緣支撐上。
多個元件系統，視為單一待測設備測試配置範例
測試程序
測試之執必須將測試產生器依序連接到每一個耦合和去耦合裝置，而其它沒有使用的耦合裝置輸入埠，是以50Ω負載電阻終接。
頻率範圍是由150kHz 掃描到80MHz，使用在設定處理時建立的信號位準，擾動信號以1kHz 正弦波進行80%振幅調變，依需要暫停調整射頻位準或切換耦合裝置，掃描速率不能超過1.5×10-3decades/s，頻率掃描為逐步增加，則每次不能超過開始的1%以及之後接續頻率的1%。
在每個頻率的暫留時間不能少於要被使用待測設備和回應所必須的時間，敏感的頻率(例如時脈頻率和諧波或主要測試頻率或測試中發生異常之頻率)必須各別來分析。在測試期間要使待測設備完整的操作，且完整地審查選擇做為感受性測試的所有操作模式.
61000-4-6 測試結果的評估
測試結果必須依待測設備的功能喪失或劣化來分類，可參考由製造商或測試者要求訂定的性能位準，或由製造商和產品的採購者協商，建議的分類如下：
a) 在製造商和採購者所定的規格要求內性能正常； b) 性能暫時喪失或劣化的情形在干擾源終止後也停止， 而且不需要操作者處理即可自行恢復正常功能； c) 暫時的劣化或性能的喪失， 需要操作人員處理或系統重新設定方能恢復； d) 性能的劣化或喪失， 是因硬體或軟體的損壞或是因資料流失， 以致無法恢復。
聲明及相關資料索引 / Declare and relative information
本篇文章僅供法規介紹使用，若你有需求瞭解細部內容，可以透過下列連結購買完整的法規，或者你可透過各地認證實驗室洽詢細部之要求 This article information use to introducing standards. If you want to figure out more detail. You can purchase full version standard on the online shop at the below link:
| 
發表於 2023-5-2 11:02:56
收藏